影响镀层测厚仪测试的11种因素
　　镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
　　影响镀层测厚仪测试的因素有以下几点：
　　1、基体金属磁性质：磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
　　2、基体金属电性质：基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
　　3、基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
　　4、边缘效应：镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
　　5、曲率：试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
　　6、试件的变形：测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
　　7、表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。
　　8、磁场：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
　　9、附着物质：镀层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
　　10、测头压力：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
　　11、测头的取向：测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。